課程目錄:電子元器件失效分析實(shí)用技術(shù)培訓(xùn)
        4401 人關(guān)注
        (78637/99817)
        課程大綱:

            電子元器件失效分析實(shí)用技術(shù)培訓(xùn)

         

         

         

        第一講 電子元器件失效分析程序和方法
        1、失效分析技術(shù)常用名詞解釋;
        2、失效分析的作用;
        3、失效的程序和方法;
        4、失效分析要求以及注意的問題;
        5、失效分析手段(儀器、設(shè)備)使用技巧。
        第二講:失效分析經(jīng)典案例
        1、完整分析過程的案例: 通過具體的分析案例,介紹失效分析的全過程。
        該案例中詳細(xì)講述元器件失效中如何根據(jù)產(chǎn)品的基本信息(工作原理、材料、結(jié)構(gòu))和失效的表現(xiàn)制定分析路線(分析思路),
        采用合適的分析手段提取失效證據(jù),并及時(shí)根據(jù)所提取的信息(證據(jù))調(diào)整分析思路;
        以及對(duì)分析過程中提取的信息(證據(jù))進(jìn)行綜合分析,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確診斷。
        同時(shí),通過這個(gè)具體的分析案例,講述電子元器件失效中的分析層次的問題。
        2、對(duì)于失效機(jī)理和實(shí)效原因的經(jīng)典案例:
        按照電子元器件的失效機(jī)理或失效原因分類,講解各種典型失效的失效特征,診斷技巧。案例包含元器件的各個(gè)門類,
        包括電阻器、電容器、電感器、二極管、三極管、集成電路、組件、板件(PCBA):
        1)材料缺陷引起的失效;
        2)結(jié)構(gòu)缺陷引起的失效;
        3)制造工藝缺陷引起;
        4)靜電損傷引起的失效;
        5)電浪涌引起的失效;
        6)機(jī)械應(yīng)力引起的失效;
        7)熱變應(yīng)力引起的失效;
        8)污染腐蝕引起的失效;
        9)使用不當(dāng)引起的失效
        10)元器件固有機(jī)理引起的失效